功能:
材料的表面形貌,微区力学和热导分析,材料的磁畴和铁电畴观察,材料微区导电性测量,等等。该多功能显微镜独具联用测试模式,能同时获得磁畴和铁电畴图像,铁电畴和导电信号,磁畴和热导分布信号等。
工作模式:
单一工作模式包括:Atomic Force Microscopy(AFM),Magnetic Force Microscopy(MFM),Electrostatic Force Microscope(EFM),Conductive AFM(CAFM),Piezo-response Force Microscopy(PFM),Scanning Thermal Microscopy(SThM),Quantitative Nanomechanical Mapping(QNM)。联用工作模式包括:MFM+PFM,PFM+CAFM,MFM+SThM等。
基本性能参数:
标称扫描范围:90μm×90μm×10μm;
X-Y定位噪音(闭环):≤0.10nm RMS,Z传感器噪音水平(闭环):35pm RMS;
温度范围:-35℃~250℃;
磁场范围:直流磁场0~2000高斯。