磁电子材料与器件研究组

生产厂家：

系统集成：卓立汉光；

设备生产：激光器(日本Kimmon)、光谱仪与探测器(英国Andor)、半导体参数测试仪(安捷伦)、探针台(台湾奕叶)；

仪器型号：

激光器(IK3301R-G)、光谱仪(SR-300i-B)、CCD探测器(DU420A-BVF)、半导体参数测试仪(B1500A)、探针台(奕叶)；

仪器用途：

具有实时、同步、原位采集光、电信号的能力；

电学：光、电场作用下电输运性能测量；

光学：光、电场作用下吸收、荧光性能测量；

技术参数：

HeGe激光器：波长325 nm，功率30 mW，聚焦点直径<0.6 mm，噪声<0.5%，稳定性<1%；

SR-300i-B光谱仪：机械扫描范围0-1200 nm，分辨率0.1 nm；

DU420A-BVF探测器：探测范围400-800 nm；量子效率90%/500 nm；

高精度电动位移台：行程75*50mm，步长精度50nm，手动调焦；

紫外物镜：50倍放大，视场100 um，工作距离20mm；

可见光物镜：10倍放大CMOS相机；

延长光路：XY电动调节，行程20 mm，步进1 um, Z轴手动调节；

半导体参数测试仪：高功率测量(量程 ±200 V，±1 A)，高分辨测量(量程 ±100 V，±0.1 A；分辨率1 fA)，脉冲快速测量(50 ns)；

探针台：六探针，带电磁屏蔽箱。